掌上型光时域反射计型号：ZDK-AV6416
产品综述： ZDK-AV6416掌上型光时域反射计是针对FTTx而*的测试仪器。该产品主要用于测量光纤光缆的长度、传输损耗、接头损耗等光纤物理性，并能对光纤线路中的事件点、故障点准确定位。广泛应用于光纤通信系统的程施、维护测试及紧急抢修；光纤光缆的研制与生产测试等。 ZDK-AV6416外观结构采用业界*为的双色双料体化模具*艺，外观新颖亮丽、坚固耐用、操作非常方便，采用防反射LCD显示，使得野外环境下操作界面清晰可见，整机采用双路供电方式，大容量锂电池使整机的作时间长达10小时以上，该产品具有两种USB接口形式，既可接入U盘，也能通过USB数据线与PC机通信。同时，为方便操作人员携带方便，该产品采用了更人性化的*，为仪器配备了舒适的背带。主要点： ● 掌上型、重量轻、便于携带 ● 业界*的双色双料体化防溅式模具艺，坚固耐用 ● 防反射LCD，野外环境下显示界面清晰可见 ● 1.6m短事件盲区，测试光纤跳线轻松自如 ● 具有自动及手动测试能 ● 双USB接口能，既可外接U盘，也能通过SyncActive软件与PC机通信 ● 支持Bellcore GR196文件格式 ● **电池电量示及电池低电压告警能 ● WinCE视窗操作系统，中英文操作界面 ● 10小时长电池续航时间，适于长时间野外施 ● VFL可视故障定位能 ● OTDR光输出头采用可更换方式，端面清洁更加方便● 短事件盲区 ZDK-AV6416具有短的事件盲区，尤其适于对短的光纤链路或光纤跳线的测试。● 快速自动测试 ZDK-AV6416的自动测试能使得用户无需了解更多的有关该仪器操作的细节，测试步骤变得非常简单，只需要接入光纤、点击【测试】按钮即可，仪器会自动设置测试条件并*终给出准确的测试结果，如测试曲线和事件列表等。● 快速曲线分析 ZDK-AV6416能够快速准确地查找出测试曲线中的事件点或故障点及其位置信息，并以事件表的形式列出线路中所有的事件信息，这对线路维护人员非常有用，既提测试效率，又无需了解烦琐的背景知识。
曲线分析及事件列表
● 强的文件管理 ZDK-AV6416具有强大的文件管理能，除了能对机内或U盘的文件行存储、浏览、删除外，还能够外接基于PCL语言的激光打印机或喷墨打印机，以便打印测试报表。除此之外，ZDK-AV6416还可借助SyncActiveSync软件通过USB数据线与PC机速通信。
文件管理及数据传输
● 便利的VFL能 借助ZDK-AV6416的可视红光故障（VFL）能可以非常方便、快捷地发现短距离光纤链路中断点或大的损耗点位置，以便维护人员及时采取措施，节省时间。
● 典型应用
ZDK-AV6416掌上型光时域反射计主要用于对FTTx网路的测试。该产品为用户提供了种低成本的测试方案，具有手动测试(实时测试、平均测试)、自动测试和盲区测试3种模式。手动测试模式：该测试模式适于那些对该仪器了解的熟练操作者，因此能够得到更加准确的测试结果。在手动测试模式中，用户可根据测试需要选择实时测试模式或平均测试模式。 实时测试可快速检测光纤链路的动态变化，应用于需要实时监测或观察光纤链路的对接过程及效果。 平均测试模式可以尽*可能地抑制测试曲线中的噪声，从而得到更加的测试结果。在平均测试模式中，平均次数越大，则对噪声的抑制效果越好，但测试时间也相应的加长，因此，在实际使用中，可根据需要灵活设置平均次数。自动测试模式：该模式下，仪器能够自动设置测试条件，并给出测试结果，无需操作者了解复杂的背景知识和有关仪器操作的细节。为了提自动测试的精度，可以适当加大自动测试时的平均次数，但将延长自动测试的时间。盲区测试模式：该模式适用于对短距离光纤的测试，如测试光纤跳线的长度等，在该模式下，如希望仪器获得*的测试结果，要求被测光纤末端的反射损耗(或称回波损耗)大于40dB。● 术规范
注：1. 环境温度23℃±2℃，*测试脉冲宽度，平均次数大于300。 2. 盲区测试模式(量程4km、脉宽10ns、衰减10dB)，光纤端面反射损耗≥40dB，典型值。 3. 低亮度、不测试。● 订货信息 主机：ZDK-AV6416掌上型光时域反射计 标配：
标准模块：ZDK-AV6416掌上型光时域反射计可选购的模块如下表
选件：