两探针电阻率测试仪/二探针电阻率测试仪/两探针仪 （测锗） 型号：KDK-KDY-2
KDK-KDY-2型两探针电阻率测试仪（以下简称两探针仪）是按照我家标准GB/T1551-1995及美材料与试验协会（ASTM）推荐的材料验收检测方法“两探针法”*。它适合于测量横截面面积均匀的圆型，方型或矩形单晶锭（如硅芯、检磷、硼棒、区熔锗锭等）的电阻率，测样长度与截面*尺寸之比应不小于3：1。由于两探针法的测量电流是从长棒两端出，远离电压测量探针，因此电流流过金属与半导体接触处产生的许多副效应（如珀尔帖效应、塞贝克效应、少子注入效应等），对测量的影响较小，测量结果为横截面的平均电阻率，两探针法的测量精度般优于四探针法。