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少子寿命测试仪
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产品名称:
少子寿命测试仪
产品型号:
GZ-LT-2
产品厂商:
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简单介绍
单晶少子寿命测试仪 少子寿命测试仪 型号:GZ-LT-2 GZ-LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美 A.S.T.M 标准而*的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量,是半导体的常规测试项目之。本仪器灵敏度较,配备有红外光源,可测量包括集成电路硅单晶在内的各种类型硅单晶,以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。
少子寿命测试仪
的详细介绍
单晶少子寿命测试仪 少子寿命测试仪 型号:GZ-
LT-2
GZ-LT-2型单晶少子寿命测试仪
是参考美 A.S.T.M 标准而*的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量,是半导体的常规测试项目之。本仪器灵敏度较,配备有红外光源,可测量包括集成电路硅单晶在内的各种类型硅单晶,以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。
本仪器根据际通用方法频光电导衰退法的原理*
,由稳压电源、频源、检波放大器,制的InGaAsp/InP红外光源及样品台共五份组成。采用印刷电路和频接插连接。整机结构紧凑、测量数据可靠。
术 标
:
测试单晶电阻率范围
>2Ω.cm
可测单晶少子寿命范围
5μS~7000μS
配备光源类型
波长:1.09μm;余辉<1 μS;
闪光频率为:20~30次/秒;
闪光频率为:20~30次/秒;
频振荡源
用石英谐振器,振荡频率:30MHz
前置放大器
放大倍数约25,频宽2 Hz-1 MHz
仪器测量重复误差
<±20%
测量方式
采用对标准曲线读数方式
仪器消耗率
<25W
仪器作条件
温度: 10-35℃、 湿度 < 80%、使用电源:AC 220V,50Hz
可测单晶尺寸
断面竖测:φ25mm—150mm; L 2mm—500mm;
纵向卧测:φ25mm—150mm; L 50mm—800mm;
配用示波器
频宽0—20MHz;
电压灵敏:10mV/cm;
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