涡流测厚仪 型号:TX-ED400
TX-ED400型涡流测厚仪是TX-ED300型测厚仪的改型，仪器性能大幅度提。 仪器适于测量各种非磁性金属基体上缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝材料、铝件表面的阳氧化膜或涂层厚度，以及其他有色金属材料上缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。 仪器适于在生产现场、销售现场或施现场对产品行快速、无损的膜厚检查， 可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。 仪器符合家标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法》。 仪器点 TX-ED400型涡流测厚仪与TX-ED300型相比，具有如下点： ＊量程宽 TX-ED400型的量程达到0～500μm。 ＊精度 TX-ED400型的测量精度达到2%。 ＊分辨率 TX-ED400型的分辨率达到0.1μm。 ＊校正简便 只校正“0”和“50μm”两点，即可在量程范围内保证*精度。 ＊基体导电率影响小 基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时，测量 误差不大于1～2μm。 ＊可靠性提 采用集成度、稳定性电子器件，电路结构优化，仪器可靠性 提。 ＊稳定性提 采用的温度补偿术，测量值随环境温度的变化很小。仪器 校正次可在生产现场长期使用。 ＊探头线寿命长 采用德口的，在德测厚仪上使用的探头线，探头线寿命 可大大延长。 ＊探头芯寿命长 采用强度磁芯材料，微调了探头*，探头芯寿命可大大延 长。 ＊探头可互换 外接式探头，探头损坏后，使用者可自行更换备用探头。仪器无 需返厂维修。
测量范围： 0～500μm 测量精度： 0～50μm：±1μm； 50～500μm：±2% 分 辨 率： 0～50μm：0.1μm、 50～500μm：1μm； 0～500μm：1μm（可选） 使用温度： 5～45℃ 外形尺寸： 150mm×80mm×30mm 重 量： 260g
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