金属电子逸出测定仪/测定仪 型号：NTP-W-Ⅲ
[仪器点]
1、数据采集采用四块三位半数字表立显示，无需另接测量仪表，数据稳定
2、实验器材面，采用优良接插件
[实验目的]
1、 了解热电子发射的基本规律
2、 用理查孙直线法测定金属钨电子的逸出 <或逸出电位 >
3、 研究二管的伏安性
4、 用磁控条件测量电子荷质比
5、 学习避开某些不易测常数而直接得到结果的实验方法
[术参数]
（1）数据采集：四块三位半数字表分别显示灯丝电流、阳电压、阳电流、磁控电流
（2）理想二管：纯钨丝
（3）灯丝电流：DC 0～0.750 A，连续可调，精度：1mA，三位半数字显示
（4）阳电压：DC 0～199.9V，连续可调，精度：0.1V，三位半数字显示
（5）阳电流：测量范围：0～1999uA，精度：1uA，三位半数字显示
（6）磁控电流：DC 0～0.800 A，连续可调，精度：1mA，三位半数字显示
（7）电源主机尺寸：330mm（W）×300mm（D）145（H）mm
[仪器组成]
1、NTP-W-Ⅲ 金属电子逸出测定仪 电源主机 1台
2、金属电子逸出测试台（包含理想二管） 1台
3、理想二管磁控线圈 1只
4、实验连接线 8根
5、使用说明书 1本
6、产品合格证 1只
7、三相电源线 1根
8、保险丝（1A） 2只