显微图像分析仪 型号:CJ-JX2000A/B
主要性能:光学显微镜放大成像,业摄像头,速分辨率图像采集卡,图像动态快速显示于电脑,直接观察粉体颗粒的形貌,用软件行粒度分析。平场消色差物镜,*分辨率0.07微米,*光学放大倍数1600倍,图像显示和打印*倍数4000倍(A4幅面)。 测量范围: 0.5μm~2000μm 测量方法: 透射:将样品置于载玻片上,运行用软件,由电脑分析处理,计算数据。 反射:将样品置于物镜下方,运行用软件,由电脑分析处理,计算数据。 分析软件:提供等面积和等周长两种基准下的个数、直径、面积、体积等分布数据。同时提供D10、D50、D90、平均粒径、表面积、长径比等数据,配有多种图像分析和处理能,可以满足各种图像处理需要。 图像分析处理: 1.色调处理:负像、灰度化、色调调整、亮度、对比度调整; 2.图像矫正:水平镜像、垂直镜像、90度(逆时针)、90度(顺时针) 、旋转、放大、缩小、意比例缩放等; 3.测量单位:微米、毫米、厘米、英吋选; 4.图像增强:对比度均衡、膨胀、腐蚀等; 5.图像处理:图像锐化,边缘平滑,二值化,边界滤波,分析目标擦除、孔洞填充,手擦除,手连接,粒子属性查看、设置标尺、网格等能; 6.分析参数: (1)几何参数:每个颗粒的质心 X、Y 坐标位置,像素; (2)当量几何参数:等面积圆直径,等周长圆直径,长径,短径,长径比; (3)外接几何参数:每个颗粒的外接圆直径; (4)光密度参数:图像 R、G、B、灰度分布; (5)形态学参数:长径比,圆度系数; 测量结果:颗粒形貌可存盘打印,还可输出多种格式的测试报告。另可根据行业殊要求,*磨料、 硅灰石等用软件。