温度传感器测试及半导体致冷控温实验仪 型号；HAD-FD-TM
对温度传感器性能的了解及测试是大学物理实验的项备内容，但大多数实验仪器只具备做环境温度以上的实验， HAD-FD-TM温度传感器测试及半导体致冷控温实验仪具备了半导体致冷能，使之能做环境温度以下的实验。本仪器主要测试温度传感器AD590的性能(可根据要求增加多种温度传感器的测试)及了解半导体致冷堆的性能。
仪器主要由以下分组成：
1．TCF708控温仪
2．四位半数字电压表（0-2V）
3．加热井和致冷井装置
4．AD590实验系统
应用该仪器可以成以下实验：
1．学习半导体制冷的原理。
2．测量电流型温度传感器AD590的性。
3．学习**温度调节仪控温的原理及调节方法。
仪器主要术参数：
1．加热范围 环境温度－120℃
2．致冷范围 环境温度－低于环境温度30℃
3．控温精度 0.1℃
4．测温精度 ±3%
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