新品便携式电阻率用来测量硅晶块、晶片的电阻率及扩散

便携式电阻率测试仪是用来测量硅晶块、晶片的电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。

   本仪器按照半导体材料电阻率的际及家标准测试方法有关规定*。

   它主要由电器测量份（主机）及四探针头组成，需要时可加配测试架。

   为减小体积，本仪器用同块数字表测量电流及电阻率。样品测试电流由精度的恒流源提供，随时可行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分选材料也可以用来作产品检测。对1～100Ω·cm标准样片的测量误差不过±3%，在此范围内达到家标准.

（1）测量范围：

可测方块电阻：  0.1～1999Ω/口

        当被测材料电阻率≥200Ω·cm数字表显示0.00。

（2）恒流源：

      输出电流：DC  0.1mA～10mA分两档

      1mA量程：0.1～1mA  连续可调

      10mA量程：1mA ～10mA连续可调

      恒流精度：各档均优于±0.1%

（1）  直流数字电压表

测量范围：0～199.9mv

灵敏度：100μv

准确度：0.2%（±2个字）

（2）  供电电源：

AC：220V   ±10%     50/60HZ    率8W

（3）  使用环境：          相对湿度≤80%

（4）  重量、体积

重量：2.2 公斤        

体积：宽210×100×深240（mm）