方块电阻测试仪/方块电阻测定仪/四探针方块电阻测试仪  型号：H19413
H19413
型方块电阻测试仪,是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新代产品,门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等物质的薄层电阻
点:
1、采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要分，测量准确稳定。
2、以大屏幕LCD显示读数，直观清晰
3、采用单个电池供电，带电池欠压示
4、体积≤175mmX92mm X42mm，重量≤300g
5、可配台式探头和制之手握式探头，对应可采用台式和手握式操作，使用简易
6、带探头与被测物质接触良好示(LED)
7、单电源开关，推拉式探头－主机接插件，操作其简便。
术标
测量范围：基本量程：方块电阻 1.00-199.99(Ω/口)
扩展量程: 方块电阻 10.0-1999.9(Ω/口)
测量不确定度≤5%
探针间距:1mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;缘电阻≥500 MΩ
手握式探笔长度:约150mm或90mm;电缆联线长度:约1.5M

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